自定义热敏电阻和RTD探针组件
美国传感器公司在2017年被Littelfuse收购，制造了完整的定制调查组件系列。我们在热敏电阻和RTD上的经验，再加上我们对探针组件的广泛测试，使Littelfuse成为制造自定义探针设计的唯一合乎逻辑的选择。
在美国传感器的一个众所周知的事实是，当探针暴露于温度循环时，许多盆栽设计可能会失败。
- 恒定的高湿度，
- 凝结的湿度，或
- 恒定或间歇性的湿环境。
无论在上述条件下，探针都可能受到水分侵入的影响，无论是多么或深的热敏电阻或RTD。尽管水分侵入通常不会导致温度传感器失效，但尝试在湿环境中进行电阻测量可以使水分的电导率成为电阻读数的重要部分。这会在测量设备上创建错误的读数。
Littelfuse开发了密封方法，可防止水分入侵条件发生。我们的专有过程已在许多应用中被证明可靠。
我们的探测设计还经过环境，电气测试，以证明设计的寿命。以下是探针设计的典型资格测试。
- 序列化和记录-40至180°C的读数
- 热冲击10循环-40至180°C（极端时至少30分钟，温度之间最多30分钟）。
- 在140°C和额定最大电流的80％处热浸泡100小时。
- 振动测试
- 震惊和下降
- 记录-40至180°C的读数
Littelfuse零件通过了这些测试，平均温度测量的变化仅为±0.03°C（典型），其公差为±1.0°C。
右侧的探测经历了上述资格测试。黄铜已经显着降低，但是，平均温度漂移小于0.03°C。